集成电路EMC测试系统
依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统
传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法
集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967标准，用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
IEC61967-4规定了两种测试方法：1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流，150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。
全套测试系统，由以下几个部分组成：
1．EMI测试接收机，可选ESL3
标准对频谱仪或接收机的要求：
? 频率范围覆盖150kHz-1GHz
? 峰值检波、带Max值保持功能
? 分辨率带宽的设置如下表：
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测量仪器
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频段
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150kHz－30MHz
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30MHz－1GHz
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频谱分析仪（3dB）
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10kHz
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100kHz
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接收机（6dB
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9kHz
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120kHz
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2．测试电路板
对集成电路的EMC测试，被测IC需要安装在一块印制电路板上，为提高测试的方便性与重复性，标准规定了电路板的规格，标准电路板的大小与TEM小室顶端的开口大小匹配。
GND22-04测试电路板，完全依据集成电路电磁兼容测试要求设计，由下列部件构成：
? 测试板
? GND平面GND22-04
? 连接板CB 0706
? IC适配器
? 控制单元
3．Probe 603电流探头以及Probe 750电压探头
Probe 750：依据IEC 61967-4的电压探头
应用：测量IC引脚的电压，依据IEC 61967-4的150Ω法
主要技术参数：
? 输入阻抗：150 ?
? 频率范围：可达3GHz
? RF输出：50 ?
? 50Ω频率响应
Probe 603： 依据IEC 61967-4的电流探头
应用：测量IC引脚的电流，依据IEC 61967-4的1Ω法
主要技术参数：
? 分流电阻：
Probe 602：0.1欧姆
Probe 603：1欧姆
? 耦合电容：85 μF
? 分流电阻*大功耗：2.5瓦
? RF输入：1nH
? RF输出：50 ?
?不带前置放大器：-6dB
? 频率范围：200Hz－3GHz
