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半导体元件自动化测试系统

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产品名称: 半导体元件自动化测试系统
产品型号: IST 8900
产品展商: 艾仕欧
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IST 8900半导体元件自动化测试系统真正一台完整而具有**“性价比”的半导体元件自动化测试系统，能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！

半导体元件自动化测试系统

的详细介绍

 

 

泄漏电流测量档位 Leakage Current Measurement Range
测试参数 Parameter	电流档位 Current Range		分辨率 Resolution			精度 Accuracy		测量条件 Test Condition
Iceo/s/v、Icbo、 Iebo、Idss/v、 Igsr/f、Idrm、 Irrm、Igko、 Igss、Ir、 Ic(off)	0 - 400 nA		0.1 nA			± 3%		0 - 2.5 KV
	0 - 4 μA		1 nA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 40 μA		10 nA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 400 μA		0.1 nA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 4 mA		1 μA			± 1%		0 - 2.5 KV
	0 - 40 mA		10 μA			± 1%		0 - 2.0 KV
	0 - 400 mA		0.1 mA			± 1%		0 - 1 KV
崩溃电压档位 Breakdown  Voltage  Range
测试参数 Parameter	电压文件位 Voltage Range			分辨率 Resolution			精度 Accuracy			测量条件 Test Condition
BVceo/s/v、BVcbo、Vebo、BVdss、BVr、BVdrm、BVrrm、BVgss、BVz	0 - 30 V			0.05 V			± 1%			0 - 5 A
	30 - 60 V			0.05 V			± 1%			0 - 2 A
	60 - 2500 V			0.3 V			± 2%			0 - 40 mA
导通电流测量档位  On-State Current Range
测试参数 Parameter	电流档位 Current Range	分辨率 Resolution			精度 Accuracy				测量条件 Test Condition
hFE、Vce(sat)、Vbe(on)、Vbe(sat)、Vds(on)、 Ids、Vds、Rds(on)、Ic(on)、Vf、If、Vtm、± Vo、± Ipk、± Isc、Vbo、Ibo	0 - 20 mA	5 μA			±13%				0 - 40 V
	0 - 200 mA	50 μA			± 1%				0 - 40 V
	0 -2 A	0.5 mA			± 1%				0 - 40 V
	0 - 25 A	6 mA			± 1%				0 - 30 V
	0-50 A	12mA			± 1%				0 - 20 V
触发电流档位  Trigger  Current Range
测试参数 Parameter	电流档位 Current Range	分辨率 Resolution				精度 Accuracy			测量条件 Test Condition
hFE、Vgs(th)、Vbe(on)、Vgs(on)、Vge(th)、Vge(on)、Igt、Vgt、IL、Ih、Ic(on)、Igt 1/2/3/4、Vgt 1/2/3/4	0 - 100 μA	20 nA				±1%			0 - 20 V
	0 - 1 mA	0.2 μA				± 1%			0 - 20 V
	0 -10 mA	2 μA				± 1%			0 - 20 V
	0 - 100 mA	20 μA				± 1%			0 - 20 V
	0 - 1 A	0.2 mA				± 1%			0 - 20 V
	0 - 20 A	4 mA				± 1%			0 - 20 V

 
 

触发电压文件位Trigger Voltage Range
测试参数 Parameter		电压文件位 Voltage Range		分辨率 Resolution		精度 Accuracy
Vbe(on),Vbe(sat),Vge(on), Vgs(on),  Vgt		0 - 20 V		4 mV		± 1%
开关时间  Switching Time
测试参数 Parameter	电压文件位 Voltage Range		分辨率 Resolution		精度 Accuracy
ton、toff	0 - 1095 ns 连续调整		5 ns		± 1%

 

机身规格
仪器	体积  高x深X宽	重量
主机	11.43cm x43.69cm x41.91cm	7.7 kg
M2400A	31.75cm x44.45cm x53.34cm	75 kg
M4800A	49.53cm x44.45cm x53.34cm	120 kg
10kV电压模块	12.7cm x 27.94cm x30.48cm	5.5 kg

标准配件：
● AC电源线
● 操作手册
● 二极管轴心引脚测试治具
● 测试治具，适用于TO-220、202、237、218、92
● 测试治具，适用于TO-247、247 super
● 测试治具，适用于SMD封装
选购配件：
● 通用测试夹治具(短测试线)
● 通用测试夹治具(长测试线)
● 测试插座转接器，适用于单/双光耦合装置
● 测试治具，适用于TO-3、66、204
● DB-25公头/公头接口控制导线，适用于连接外部模
块机箱
● 超弹性硅胶大功率测试线
● 夹式测试治具，适用于150mm直径圆盘封装
IST 8900半导体元件自动化测试系统真正一台完整而具有**“性价比”的半导体元件自动化测试系统，能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！

特点：
☆ 可检测12种半导体元件的参数多达135个；
☆ 可单机独立操作，测试范围达2500V及50A；
☆ 具有自我校正及自我测试诊断之功能；
☆ 外接大电流机箱或高压装置，检测范围可扩展至4800A及10KV；
☆ 具有USB接口，可外接PC、打印机、数据记录器；
☆ 测试程序可储存及重复使用；
☆ 错误或损坏的元件，在未进入参数测试前，便可被自动筛除；
☆ 提供全自动好/坏判别或参数上的测量；
☆ 提供Windows PC Curve Tracer特性曲线软件（选购）；
☆ 具有机械手接口，可供大量生产测试；
☆ 任何管脚错误的连接，均可在启动时，**快速地检测到，且自动停止测试动作；
☆ 测试程序的产生，采用填充式的引导方式；
☆ 测试光耦输出端为三极管或交直流可控硅的元件；
☆80μs~300μs脉冲测试间隔，可防止元件过热造成的数据漂移或损毁。
☆ 采用自动校准软件技术，可排除连接插件接触面、电路板上的线路或继电器接点上细微的压降问题，以避免使用昂贵而麻烦的KELVIN插座，保证MOSFET的Rds(on)精度可达±1mΩ (±0.001Ω)。

元件类型	漏电流	崩溃电压	导通参数	放大倍率	触发参数	闩扣参数	保持参数	开关参数
Bipolar  Transistor	Iceo、Ices、Icev、Icbo、Iebo	BVceo、BVces  BVcev、BVcbo  BVebo	Vce(sat)  Vbe(sat)	hFE	Vbe(on)			ton  toff
MOSFET  Transistor	Idss、Igsr、Igsf、Idsv	BVdss	Vds(on)、Ids(on)  Rds(on)、Vsd	gFS	Vgs(th)  Vgs(on)			ton  toff
IGBT	Ices、Igsr、Igsf	BVces	Vce(sat)、  Ic(on)、Vf	gFS	Vge(th)  Vge(on)			ton  toff
TRIAC	Idrm、Irrm	BVrrm、BVdrm	Vtm+、Vtm-		Iga 1/2/3/4  Vga 1/2/3/4		Ih+、Ih-
SCR	Idrm、Irrm、Igko	BVdrm、BVrrm  BVgko	Vtm		Igt、Vgt	IL	Ih
GTO	Idrm、Irrm、Igrm		Vtm		Igt、Vgt	IL	Ih
DIODE	Ir	BVr	Vf、If
Zener Diode	Ir	BVz、BVr	Vf
J-FET	Igss	BVgss	Idss、Rds(on)  Vds(on)	gFS		Vgs(p)	Id(p)
Regulator			+/-Vo、+/-Ipk  +/-Isc			+/-dV	+/-0r、+/-Ir
Optoisolator	Irrm、Ir、Iceo  Icbo、Iebo  Ic(off)、Idrm	BVceo、BVcbo  BVebo	Vf、Ic(on)、  Vce(sat)、Vtm	CTR、hFE	Igt		Ih
VTS	Ir	BVr	Vbo、bo、dVbo

大功率半导体元件的测试
当功率模块老化时，其工作效能必定降低，一个应用在大功率开关上的功率元件，在其使用期限内，如能定期维护测
试，可确保其使用的*佳状态，防止故障发生。
IST 8900半导体元件全自动测试系统，可以仿真元件在真正工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与
原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。
导通参数测试如：Vce(sat)、Vds(on)、Rds(on)、Vf及Vtm等，可由选购外部电流模块M2400与M4800，将IST 8900的大功率测试电流扩大至数千安培。
每个电流模块，都具有独立的供电系统，以便在测试时，提供内部电路及电池组充电之用；IST 8900可通过一个DB-25接口，连续控制电流量0~2400A或0~4800A。
可选购外部高压模块，执行关闭状态参数测试如：各项崩溃电压与漏电流测量达10KV。
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